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一種智能卡掉電測試方法、測試設備和被測設備.pdf

關 鍵 詞:
一種 智能卡 掉電 測試 方法 設備
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摘要
申請專利號:

CN201310706883.3

申請日:

2013.12.19

公開號:

CN103678067A

公開日:

2014.03.26

當前法律狀態:

駁回

有效性:

無權

法律詳情: 發明專利申請公布后的駁回IPC(主分類):G06F 11/22申請公布日:20140326|||實質審查的生效IPC(主分類):G06F 11/22申請日:20131219|||公開
IPC分類號: G06F11/22 主分類號: G06F11/22
申請人: 大唐微電子技術有限公司
發明人: 肖洪琨
地址: 100094 北京市海淀區永嘉北路6號
優先權:
專利代理機構: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 代理人: 王丹;栗若木
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法律狀態
申請(專利)號:

CN201310706883.3

授權公告號:

||||||

法律狀態公告日:

2017.09.26|||2014.04.23|||2014.03.26

法律狀態類型:

發明專利申請公布后的駁回|||實質審查的生效|||公開

摘要

本發明公開了智能卡的掉電測試方法,該方法應用于測試設備,包括:在TCK測試用例被安裝到被測設備上后,向被測設備發送開啟掉電模式指令;開始運行測試腳本;每發送一條測試命令后,接收被測設備在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據,如收到的狀態字為表示掉電的狀態字,則重新開始運行該測試腳本;如收到的狀態字和測試數據符合預期,則判斷是否存在下一條測試命令,是則繼續發送下一條測試命令,否則結束所述測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令。本發明能解決傳統掉電測試需要專門的測試設備和編寫專門的掉電測試用例導致的測試成本高、效率低、測試力度弱的問題。本發明還公開了測試設備、被測設備和測試系統。

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本文標題:一種智能卡掉電測試方法、測試設備和被測設備.pdf
鏈接地址:http://www.pqsozv.live/p-6180715.html
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