• / 14
  • 下載費用:30 金幣  

一種智能卡掉電測試方法、測試設備和被測設備.pdf

關 鍵 詞:
一種 智能卡 掉電 測試 方法 設備
  專利查詢網所有資源均是用戶自行上傳分享,僅供網友學習交流,未經上傳用戶書面授權,請勿作他用。
摘要
申請專利號:

CN201310706883.3

申請日:

2013.12.19

公開號:

CN103678067A

公開日:

2014.03.26

當前法律狀態:

駁回

有效性:

無權

法律詳情: 發明專利申請公布后的駁回IPC(主分類):G06F 11/22申請公布日:20140326|||實質審查的生效IPC(主分類):G06F 11/22申請日:20131219|||公開
IPC分類號: G06F11/22 主分類號: G06F11/22
申請人: 大唐微電子技術有限公司
發明人: 肖洪琨
地址: 100094 北京市海淀區永嘉北路6號
優先權:
專利代理機構: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 代理人: 王丹;栗若木
PDF完整版下載: PDF下載
法律狀態
申請(專利)號:

CN201310706883.3

授權公告號:

||||||

法律狀態公告日:

2017.09.26|||2014.04.23|||2014.03.26

法律狀態類型:

發明專利申請公布后的駁回|||實質審查的生效|||公開

摘要

本發明公開了智能卡的掉電測試方法,該方法應用于測試設備,包括:在TCK測試用例被安裝到被測設備上后,向被測設備發送開啟掉電模式指令;開始運行測試腳本;每發送一條測試命令后,接收被測設備在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據,如收到的狀態字為表示掉電的狀態字,則重新開始運行該測試腳本;如收到的狀態字和測試數據符合預期,則判斷是否存在下一條測試命令,是則繼續發送下一條測試命令,否則結束所述測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令。本發明能解決傳統掉電測試需要專門的測試設備和編寫專門的掉電測試用例導致的測試成本高、效率低、測試力度弱的問題。本發明還公開了測試設備、被測設備和測試系統。

權利要求書

權利要求書
1.  一種智能卡的掉電測試方法,該方法應用于測試設備,包括:
在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設備上后,向被測設備發送開啟掉電模式的指令;
開始運行測試腳本;每發送一條測試命令后,接收被測設備在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據,如接收到的狀態字為表示掉電的狀態字,則重新開始運行該測試腳本;如接收到的狀態字和測試數據符合預期,則判斷是否存在下一條測試命令,是則繼續發送下一條測試命令,否則結束所述測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令;
其中,所述測試腳本包含一條或多條測試命令。

2.  如權利要求1所述的方法,其特征在于:
如接收到的狀態字和測試數據不符合預期,則中止該測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令,并保存接收到的狀態字和測試數據供后續錯誤分析用。

3.  如權利要求1所述的方法,其特征在于:
所述測試命令為應用協議數據單元APDU命令。

4.  一種智能卡的掉電測試方法,該方法應用于被測設備,所述被測設備上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例,包括:
如接收到測試設備發送的開啟掉電模式的指令,則進入掉電模式,初始化寫操作計數器和掉電位置變量;其中,所述寫操作計數器自動對每一次寫存儲器操作進行次數累加;
在掉電模式下每接收到一條測試命令后,判斷是否需要寫存儲器,如果需要,則寫存儲器,判斷所述寫操作計數器的當前計數值與所述掉電位置變量的值是否相等,如相等則向測試設備返回表示掉電的狀態字,將所述掉電位置變量的值增加一個掉電步長,模擬COS掉電和重新上電,在掉電模式 下等待接收下一條測試命令;如果不需要,則執行該測試命令,向測試設備返回狀態字和測試數據,在掉電模式下等待接收下一條測試命令。

5.  如權利要求4所述的方法,其特征在于:
在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中,還判斷是否接收到測試設備發送的關閉掉電模式的指令,是則關閉掉電模式。

6.  如權利要求4所述的方法,其特征在于:
所述存儲器是智能卡上的可擦寫存儲器。

7.  如權利要求4-6中任一項所述的方法,其特征在于:
所述智能卡為Java卡。

8.  一種智能卡的掉電測試方法,包括:
測試設備采用如權利要求1-3中任一項所述的方法對被測設備進行掉電測試;
被測設備采用如權利要求4-7中任一項所述的方法接受測試設備的掉電測試。

9.  一種測試設備,包括:
掉電測試開啟模塊,用于在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設備上后,向被測設備發送開啟掉電模式的指令;
命令發送及處理模塊,用于開始運行測試腳本;每發送一條測試命令后,接收被測設備在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據,如接收到的狀態字為表示掉電的狀態字,則重新開始運行該測試腳本;如接收到的狀態字和測試數據符合預期,則判斷是否存在下一條測試命令,是則繼續發送下一條測試命令,否則結束所述測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令;其中,所述測試腳本包含一條或多條測試命令。

10.  如權利要求9所述的測試設備,其特征在于:
所述命令發送及處理模塊,還用于如接收到的狀態字和測試數據不符合 預期,則中止該測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令,并保存接收到的狀態字和測試數據供后續錯誤分析用。

11.  一種被測設備,所述被測設備上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例,該被測設備包括:
掉電測試開啟模塊,用于如接收到測試設備發送的開啟掉電模式的指令,則進入掉電模式,初始化寫操作計數器和掉電位置變量;其中,所述寫操作計數器自動對每一次寫存儲器操作進行次數累加;
命令接收及處理模塊,用于在掉電模式下每接收到一條測試命令后,判斷是否需要寫存儲器,如果需要,則寫存儲器,判斷所述寫操作計數器的當前計數值與所述掉電位置變量的值是否相等,如相等則向測試設備返回表示掉電的狀態字,將所述掉電位置變量的值增加一個掉電步長,模擬COS掉電和重新上電,在掉電模式下等待接收下一條測試命令;如果不需要,則執行該測試命令,向測試設備返回狀態字和測試數據,在掉電模式下等待接收下一條測試命令。

12.  如權利要求11所述的被測設備,其特征在于:
所述命令接收及處理模塊,用于在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中,還判斷是否接收到測試設備發送的關閉掉電模式的指令,是則關閉掉電模式。

13.  如權利要求11或12所述的方法,其特征在于:
所述智能卡為Java卡。

14.  一種智能卡的掉電測試系統,包括:
如權利要求9-10中任一項所述的測試設備;
如權利要求11-13中任一項所述的被測設備。

說明書

說明書一種智能卡掉電測試方法、測試設備和被測設備
技術領域
本發明涉及智能卡技術領域,尤其涉及的是一種智能卡掉電測試方法、測試設備、被測設備和掉電測試系統。
背景技術
智能卡的掉電測試,即防插拔測試,其目的是檢測智能卡的片內操作系統(Chip Operating System,COS)與終端(如POS機)交互過程中意外掉電時對數據完整性的保護和自動回滾的能力。例如,一次存款交易中,智能卡在返回狀態前的任何時刻掉電,卡片再次上電后應能將數據回滾到交易前的狀態。智能卡寫入的數據必須保證其原子性,所謂的原子性就是指一個操作序列,這些操作要么全做要么全部不做,是一個不可分割的工作單位(也可稱作事務)。以保證數據寫入過程中出現異常能夠對數據進行回滾,同時一旦寫入成功,對數據的修改應該是永久的。
傳統的掉電測試使用專門的測試設備(掉電測試儀),并且針對測試設備編寫專門的掉電測試用例和腳本對測試卡(智能卡)進行測試,測試時,掉電測試儀按照預設的時間間隔對測試卡進行掉電和重新上電,驗證測試卡的狀態,如果正常,則掉電測試儀繼續間隔一定時間進行掉電,如此循環,直到完成整個應用的業務流程的掉電測試。
現有的掉電測試技術需要高精度的掉電測試儀器,越高精度(時間間隔越小,精度越高)的掉電測試儀,成本就越高,并且,由于需要編寫專門的測試用例進行掉電測試,所以對COS測試的覆蓋面不夠(測試力度弱),且測試過程復雜繁瑣,另外,利用掉電測試儀進行測試所耗費的測試時間長,比如,測試一個50ms完成的交易,利用掉電測試儀按照0.01ms的精度進行掉電測試需要幾個小時才能測試完成。
因此,現有的掉電測試方法存在成本高、效率低、測試力度弱的缺點。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種智能卡掉電測試方法、測試設備、被測設備和掉電測試系統,解決傳統掉電測試需要專門的測試設備和編寫專門的掉電測試用例導致的測試成本高、效率低、測試力度弱的問題。
為了解決上述技術問題,本發明提供了一種智能卡的掉電測試方法,該方法應用于測試設備,包括:
在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設備上后,向被測設備發送開啟掉電模式的指令;
開始運行測試腳本;每發送一條測試命令后,接收被測設備在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據,如接收到的狀態字為表示掉電的狀態字,則重新開始運行該測試腳本;如接收到的狀態字和測試數據符合預期,則判斷是否存在下一條測試命令,是則繼續發送下一條測試命令,否則結束所述測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令;
其中,所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
進一步地,該方法還包括下述特點:
如接收到的狀態字和測試數據不符合預期,則中止該測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令,并保存接收到的狀態字和測試數據供后續錯誤分析用。
進一步地,該方法還包括下述特點:
所述測試命令為應用協議數據單元APDU命令。
為了解決上述技術問題,本發明還提供了一種智能卡的掉電測試方法,該方法應用于被測設備,所述被測設備上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例,包括:
如接收到測試設備發送的開啟掉電模式的指令,則進入掉電模式,初始化寫操作計數器和掉電位置變量;其中,所述寫操作計數器自動對每一次寫存儲器操作進行次數累加;
在掉電模式下每接收到一條測試命令后,判斷是否需要寫存儲器,如果需要,則寫存儲器,判斷所述寫操作計數器的當前計數值與所述掉電位置變量的值是否相等,如相等則向測試設備返回表示掉電的狀態字,將所述掉電位置變量的值增加一個掉電步長,模擬COS掉電和重新上電,在掉電模式下等待接收下一條測試命令;如果不需要,則執行該測試命令,向測試設備返回狀態字和測試數據,在掉電模式下等待接收下一條測試命令。
進一步地,該方法還包括下述特點:
在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中,還判斷是否接收到測試設備發送的關閉掉電模式的指令,是則關閉掉電模式。
進一步地,該方法還包括下述特點:
所述存儲器是智能卡上的可擦寫存儲器。
進一步地,該方法還包括下述特點:
所述智能卡為Java卡。
為了解決上述技術問題,本發明還提供了一種智能卡的掉電測試方法,包括:
測試設備采用如上所述的方法對被測設備進行掉電測試;
被測設備采用如上所述的方法接受測試設備的掉電測試。
為了解決上述技術問題,本發明還提供了一種測試設備,包括:
掉電測試開啟模塊,用于在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設備上后,向被測設備發送開啟掉電模式的指令;
命令發送及處理模塊,用于開始運行測試腳本;每發送一條測試命令后,接收被測設備在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據,如接收到的狀態字為表示掉電的狀態字,則重新開始運行該測試腳本;如接收到的狀態字和測試數據符合預期,則判斷是否存在下一條測試命令,是則繼續發送下一條測試命令,否則結束所述測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令;其中,所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
進一步地,該測試設備還包括下述特點:
所述命令發送及處理模塊,還用于如接收到的狀態字和測試數據不符合預期,則中止該測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令,并保存接收到的狀態字和測試數據供后續錯誤分析用。
為了解決上述技術問題,本發明還提供了一種被測設備,所述被測設備上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例,該被測設備包括:
掉電測試開啟模塊,用于如接收到測試設備發送的開啟掉電模式的指令,則進入掉電模式,初始化寫操作計數器和掉電位置變量;其中,所述寫操作計數器自動對每一次寫存儲器操作進行次數累加;
命令接收及處理模塊,用于在掉電模式下每接收到一條測試命令后,判斷是否需要寫存儲器,如果需要,則寫存儲器,判斷所述寫操作計數器的當前計數值與所述掉電位置變量的值是否相等,如相等則向測試設備返回表示掉電的狀態字,將所述掉電位置變量的值增加一個掉電步長,模擬COS掉電和重新上電,在掉電模式下等待接收下一條測試命令;如果不需要,則執行該測試命令,向測試設備返回狀態字和測試數據,在掉電模式下等待接收下一條測試命令。
進一步地,該被測設備還包括下述特點:
所述命令接收及處理模塊,用于在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中,還判斷是否接收到測試設備發送的關閉掉電模式的指令,是則關閉掉電模式。
進一步地,該被測設備還包括下述特點:
所述智能卡為Java卡。
為了解決上述技術問題,本發明還提供了一種智能卡的掉電測試系統,包括:上述測試設備和上述被測設備。
與現有技術相比,本發明提供的一種智能卡掉電測試方法、測試設備、被測設備和掉電測試系統,在被測設備(模擬器)上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并安裝TCK的測試用例,由測試設備向被測設備發送指令 開啟掉電測試,被測設備對寫存儲器操作的次數進行計數,每間隔一定的寫操作次數模擬一次掉電和重新上電,并向測試設備返回掉電狀態字,測試設備接收到掉電狀態字,則重新運行該測試腳本,否則檢查被測設備返回的狀態字和測試數據是否符合預期,然后進行處理,能夠解決傳統掉電測試需要專門的測試設備和編寫專門的掉電測試用例導致的測試成本高、效率低、測試力度弱的問題。
附圖說明
圖1為本發明實施例的一種智能卡掉電測試方法(測試設備)的流程圖。
圖2為本發明實施例的一種智能卡掉電測試方法(被測設備)的流程圖。
圖3為本發明實施例的測試設備進行掉電測試的詳細流程圖。
圖4為本發明實施例的被測設備(模擬器)進行掉電測試的詳細流程圖。
圖5為本發明實施例的測試設備的結構示意圖。
圖6為本發明實施例的被測設備的結構示意圖。
圖7為本發明實施例的一種智能卡掉電測試系統的結構示意圖。
具體實施方式
為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白,下文中將結合附圖對本發明的實施例進行詳細說明。需要說明的是,在不沖突的情況下,本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互任意組合。
Java規范是開放標準,TCK(Technology Compatibility Kit,兼容性測試工具)是一套由一組測試包和相應的測試工具組成的工具包,用于保證一個使用Java技術的實現能夠完全遵守其適用的Java平臺規范,并且符合相應的參考實現。
Java Card技術是把Java編程語言的一個子集同一個優化的運行時環境結合在一起的技術。這種優化是專門針對小存儲量的嵌入式設備的,例如智能卡。Java Card技術的目標是讓那些資源受限的智能卡等設備受益于Java語言開發的軟件。Java card技術規范包括三部分:1、Java Card Virtual Machine 規范:該規范定義了Java語言的一個子集和適用于智能卡的虛擬機。2、Java Card Runtime Environment規范:該規范更進一步定義了基于Java的智能卡的運行時環境。3、Java Card API規范:該規范定義了為智能卡應用程序量身定制的核心框架以及各種包和類。
Java Card TCK是一套由一組測試包和相應的自動化測試軟件組成的工具包,用于保證一個使用Java Card技術的實現能夠完全遵守其相應的Java Card平臺規范。Java Card TCK的測試包中提供了一系列用于Java Card測試的測試用例。
本發明提供一種基于Java Card TCK的掉電測試方法,在被測設備(模擬器)上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并安裝TCK的測試用例,由測試設備向被測設備發送指令開啟掉電測試,被測設備對寫存儲器操作的次數進行計數,每間隔一定的寫操作次數模擬一次掉電和重新上電,并向測試設備返回掉電狀態字,測試設備接收到掉電狀態字,則重新運行該測試腳本,否則檢查被測設備返回的狀態字和測試數據是否符合預期,然后進行處理。本發明的測試用例基于TCK,幾乎覆蓋了Java Card所有功能的測試,因此測試力度強,并且,通過軟件控制掉電,無需專門的掉電測試儀,因此降低了測試成本。
如圖1所示,本發明實施例提供了一種智能卡的掉電測試方法,該方法應用于測試設備,包括:
S10,在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設備上后,向被測設備發送開啟掉電模式的指令;
S20,開始運行測試腳本;每發送一條測試命令后,接收被測設備在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據,如接收到的狀態字為表示掉電的狀態字,則重新開始運行該測試腳本;如接收到的狀態字和測試數據符合預期,則判斷是否存在下一條測試命令,是則繼續發送下一條測試命令,否則結束所述測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令;其中,所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
該方法還可以包括下述特點:
較佳地,步驟S10之前,還包括:測試設備與被測設備之間建立socket連接。
較佳地,測試命令是應用協議數據單元(Application Protocol Data Unit,APDU)命令;
較佳地,步驟S20中,還包括:如接收到的狀態字和測試數據不符合預期,則中止該測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令,并保存接收到的狀態字和測試數據供后續錯誤分析用。
較佳地,表示掉電的狀態字為特定的狀態字,比如0xFFFF。
如圖2所示,本發明實施例提供了一種智能卡的掉電測試方法,該方法應用于被測設備,所述被測設備上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例,包括:
S10,如接收到測試設備發送的開啟掉電模式的指令,則進入掉電模式,初始化寫操作計數器和掉電位置變量;其中,所述寫操作計數器自動對每一次寫存儲器操作進行次數累加;
S20,在掉電模式下每接收到一條測試命令后,判斷是否需要寫存儲器,如果需要,則寫存儲器,判斷所述寫操作計數器的當前計數值與所述掉電位置變量的值是否相等,如相等則向測試設備返回表示掉電的狀態字,將所述掉電位置變量的值增加一個掉電步長,模擬COS掉電和重新上電,在掉電模式下等待接收下一條測試命令;如果不需要,則執行該測試命令,向測試設備返回狀態字和測試數據,在掉電模式下等待接收下一條測試命令;
該方法還可以包括下述特點:
較佳地,在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中,還判斷是否接收到測試設備發送的關閉掉電模式的指令,是則關閉掉電模式。
較佳地,所述智能卡是Java卡;
較佳地,所述測試設備與被測設備之間建立socket連接。
較佳地,所述測試命令是應用協議數據單元APDU命令;
較佳地,表示掉電的狀態字為特定的狀態字,比如0xFFFF。
其中,所述存儲器是智能卡上的可擦寫存儲器(比如,EEPROM)。
較佳地,為了提高掉電測試的精度,可以設置所述掉電步長為最小值,比如1。
模擬器在模擬寫存儲器操作時進行掉電,并且采用寫操作次數為間隔進行掉電,與傳統掉電測試方案利用時間間隔掉電的方案相比測試效率更高、測試精度更高。如果將掉電步長設置的越小,則掉電測試越精確。
如圖3所示,測試設備是PC機(運行兼容性測試工具TCK),被測設備是模擬器(模擬運行智能卡的片內操作系統COS的模擬平臺),將TCK測試用例安裝到所述模擬器上后,測試設備進行掉電測試的流程包括:
步驟S101,向模擬器發送開啟掉電模式的指令;
步驟S102,開始運行測試腳本;
步驟S103,向模擬器發送一條測試命令;
步驟S104,接收模擬器在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據;
步驟S105,判斷狀態字是否為掉電狀態字,是則重新開始運行該測試腳本,也即,返回步驟S102;否則執行步驟S106;
步驟S106,判斷狀態字和測試數據是否符合預期,是則執行步驟S107,否則執行步驟S109;
步驟S107,是否存在下一條測試命令,是則向模擬器發送下一條測試命令,也即返回步驟S103,否則執行步驟S108;
步驟S108,結束所述測試腳本的運行,向模擬器發送關閉掉電模式的指令;
步驟S109,中止該測試腳本的運行,向模擬器發送關閉掉電模式的指令,并保存返回結果(接收到的狀態字和測試數據供后續錯誤分析用)。
如圖4所示,被測設備(模擬器)上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例,模擬器進行掉電測試的處理流程包括:
步驟S201,如接收到測試設備發送的開啟掉電模式的指令,則執行步驟 S202;
步驟S202,進入掉電模式,初始化寫操作計數器和掉電位置變量;
其中,所述寫操作計數器自動對每一次寫存儲器操作進行次數累加;
步驟S203,接收一條測試命令;
步驟S204,判斷是否需要寫存儲器,是則執行步驟S205,否則執行步驟S208;
步驟S205,寫存儲器;
步驟S206,判斷所述寫操作計數器的當前計數值與所述掉電位置變量的值是否相等,是則執行步驟S207,否則轉到步驟S209;
步驟S207,向測試設備返回表示掉電的狀態字,將所述掉電位置變量的值增加一個掉電步長,模擬COS掉電和重新上電,轉到步驟S209;
步驟S208,執行該測試命令,向測試設備返回狀態字和測試數據;
步驟S209,判斷是否接收到測試設備發送的關閉掉電模式的指令,是則執行步驟S210,否則返回步驟S203;
步驟S210,關閉掉電模式。
如圖5所示,本發明實施例提供了一種測試設備,包括:
掉電測試開啟模塊,用于在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設備上后,向被測設備發送開啟掉電模式的指令;
命令發送及處理模塊,用于開始運行測試腳本;每發送一條測試命令后,接收被測設備在執行該測試命令后返回的狀態字和測試數據,如接收到的狀態字為表示掉電的狀態字,則重新開始運行該測試腳本;如接收到的狀態字和測試數據符合預期,則判斷是否存在下一條測試命令,是則繼續發送下一條測試命令,否則結束所述測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的指令;其中,所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
該測試設備還可以包括下述特點:
較佳地,所述命令發送及處理模塊,還用于如接收到的狀態字和測試數據不符合預期,則中止該測試腳本的運行,向被測設備發送關閉掉電模式的 指令,并保存接收到的狀態字和測試數據供后續錯誤分析用。
較佳地,所述測試命令是應用協議數據單元APDU命令;
所述被測設備是模擬智能卡片內操作系統COS的模擬平臺;其中,所述智能卡為Java卡。
如圖6所示,本發明實施例提供了一種被測設備,所述被測設備上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例,該被測設備包括:
掉電測試開啟模塊,用于如接收到測試設備發送的開啟掉電模式的指令,則進入掉電模式,初始化寫操作計數器和掉電位置變量;其中,所述寫操作計數器自動對每一次寫存儲器操作進行次數累加;
命令接收及處理模塊,用于在掉電模式下每接收到一條測試命令后,判斷是否需要寫存儲器,如果需要,則寫存儲器,判斷所述寫操作計數器的當前計數值與所述掉電位置變量的值是否相等,如相等則向測試設備返回表示掉電的狀態字,將所述掉電位置變量的值增加一個掉電步長,模擬COS掉電和重新上電,在掉電模式下等待接收下一條測試命令;如果不需要,則執行該測試命令,向測試設備返回狀態字和測試數據,在掉電模式下等待接收下一條測試命令。
所述被測設備還可以包括下述特點:
較佳地,所述命令接收及處理模塊,用于在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中,還判斷是否接收到測試設備發送的關閉掉電模式的指令,是則關閉掉電模式。
較佳地,所述測試命令為應用協議數據單元APDU命令。
較佳地,所述存儲器是智能卡上的可擦寫存儲器。
較佳地,所述智能卡為Java卡。
如圖7所示,本發明實施例提供了一種智能卡掉電測試系統,包括上述測試設備和被測設備。
上述實施例提供的一種智能卡掉電測試方法、測試設備、被測設備和掉 電測試系統,在被測設備上模擬運行智能卡的片內操作系統COS,并安裝TCK的測試用例,由測試設備向被測設備發送指令開啟掉電測試,被測設備對寫存儲器操作的次數進行計數,每間隔一定的寫操作次數模擬一次掉電和重新上電,并向測試設備返回掉電狀態字,測試設備接收到掉電狀態字,則重新運行該測試腳本,否則檢查被測設備返回的狀態字和測試數據是否符合預期,然后進行處理。本發明能夠解決傳統掉電測試需要專門的測試設備和編寫專門的掉電測試用例導致的測試成本高、效率低、流程復雜的問題。
本領域普通技術人員可以理解上述方法中的全部或部分步驟可通過程序來指令相關硬件完成,所述程序可以存儲于計算機可讀存儲介質中,如只讀存儲器、磁盤或光盤等。可選地,上述實施例的全部或部分步驟也可以使用一個或多個集成電路來實現,相應地,上述實施例中的各模塊/單元可以采用硬件的形式實現,也可以采用軟件功能模塊的形式實現。本發明不限制于任何特定形式的硬件和軟件的結合。
需要說明的是,本發明還可有其他多種實施例,在不背離本發明精神及其實質的情況下,熟悉本領域的技術人員可根據本發明作出各種相應的改變和變形,但這些相應的改變和變形都應屬于本發明所附的權利要求的保護范圍。

關于本文
本文標題:一種智能卡掉電測試方法、測試設備和被測設備.pdf
鏈接地址:http://www.pqsozv.live/p-6180715.html
關于我們 - 網站聲明 - 網站地圖 - 資源地圖 - 友情鏈接 - 網站客服 - 聯系我們

[email protected] 2017-2018 zhuanlichaxun.net網站版權所有
經營許可證編號:粵ICP備17046363號-1 
 


收起
展開
钻石光影